BERTScope™BSA系列泰克誤碼率分析儀為測量串行數據系統的信號完整性提供了一種新方法。通過把眼圖分析與BER碼型生成結合起來，您可以更迅速、更準確、更**地執行誤碼率檢測。通過BERTScope BSA系列，您可以簡便地隔離問題碼和碼型序列，然后通過七種**誤碼分析功能，進一步展開分析，實現異常深入的統計測量能力。
泰克誤碼率分析儀特點：
1、泰克誤碼率分析儀主要特點和優點
●高達28.6 Gb/s 的碼型發生、誤碼分析和BER 測試能力
●經校準的集成經校準的集成壓力生成技術，滿足多種標準壓力接收機靈敏度和時鐘恢復抖動容限測試要求
●*高100MHz 的正弦抖動(SJ)頻率
●隨機抖動(RJ)
●有界不相關抖動(BUJ)
●正弦干擾(SI)
●擴展頻譜時鐘
●PCIe 2.0和3.0接收機測試
●IEEE 802.3ba和32G光纖通道測試
●抖動裕量(Margin)測試、抖動容限一致性模板測試
●快速輸入上升時間/高輸入帶寬錯誤檢測器，準確分析信號完整性
●物理層測試套件，支持模板測試、抖動峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標準或用戶自定義抖動容限模板庫進行全方位測試
●集成的眼圖和BER相關分析
●抖動分離及定位（Jitter Map)選件系統豐富的抖動解析 – 支持長碼型(如PRBS-31)抖動三角測量，把基于BER的抖動分解功能擴展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ限制之外，**分解抖動子成分
●**的誤碼定位分析技術（Error Location AnalysisTM），迅速了解BER性能限制，評估確定性誤碼與隨機性誤碼，執行詳細的碼型相關誤碼分析，執行誤碼突發分析或無誤碼間隔分析
2、泰克誤碼率分析儀應用領域
●設計驗證包括信號完整性、抖動和時序分析
●對高速串行系統、復雜設計的性能測試
●串行數據流和高性能網絡系統認證測試
●設計/驗證高速I/O 組件和系統
●信號完整性分析- 模板、峰值抖動、BER 輪廓、抖動分離及定位(Jitter Map)和Q 因子分析
●設計/驗證光發射接收機
3、多域觀測
眼圖一直作為系統性能簡單、直觀的表現，但是很難和BER性能聯系起來，因為測試儀器從根本上有很大的差別。示波器測量的眼圖是由較少的測試樣本組成，不容易發現一些罕見偶發的事件。誤碼儀 (BERT) 能夠對每一個比特計數，因此能夠提供基于很大量數據集樣本的測試，但是測試結果缺乏對信息的直觀的表征和故障排查。
BERTScope結合兩者的優勢，允許快速、簡單的觀測眼圖，并比傳統的眼圖測試樣本多至少多兩個數量級。可以按照上圖的例子中所示的那樣，通過簡單的移動BERT 的采樣點，將光標放在感興趣的地方，使用強大的誤碼分析能力，獲得更多更深入的信息。例如，檢查碼型對當前上升沿影響的敏感程度。或者，使用一鍵式BER 輪廓測量，檢驗是否性能問題是有界的，或者可能會導致哪些故障。在每一個例子里，測試樣本碼型可以是231-1的偽隨機碼，可以幫助建立模型或者故障定位。
4、數據豐富的眼圖
BERTScope 測試光接口信號。在這個例子中自動切換光域測量。
正如前面所示，BERTScope 在測量數據樣本深度方面與傳統的眼圖測試有著巨大的差異。這個差異意味著你能看到更加真實的情況，無論是什么樣的系統，更多低概率事件將會隨著每次長數據碼型運行而出現，不管是有隨機噪聲，還是從VCO引起的隨機抖動。通過一鍵式的BER Contour、抖動峰值和Q-因子測試，能夠增加對系統更深層次的認識，增加對設計的信心。
5、深度模板測試
由于可以改變采樣深度，因此BERTScope 即可以利用深度測量，得到高精度的系統的性能，又可以用少量樣本測試，和取樣示波器的測試結果匹配。在上圖所示的是光接口的眼圖測試。如果將BERTScope的采樣深度僅設置為3000 個波形，BERTScope 在1 秒鐘之內就能生成眼圖。測量得到的裕量有20%，和取樣示波器的測試結果一致。下面一點的圖顯示的是使用一致性輪廓測量得到的誤碼率水平為10-6的結果，模板裕量減少到17%。
眼圖測試樣本深度優勢至少是模板測試的10倍。不像其他誤碼儀提供的“偽”模板測試那樣，BERTScope能對模板邊沿的每一個樣點進行采樣，包括在眼圖之上和之下的區域。不僅如此，每一個點都能看到之前從未看到過的深度。這意味著既是使用工業標準化模板或自定義模板持續測試幾秒鐘，也能確保被測設備沒有隱藏的問題。
6、為工業標準提供高精度的抖動測試
無論測試碼型的長短，靠推算得到抖動結果得方法是不能達到*高抖動測量精度的。BERTScope 能快速測量誤碼率水平為10-9(高速信號可達10-10)，或者等待儀器直接測量到10-12水平。對于這兩種測試方法，BERTScope 的一鍵式測量都嚴格符合MJSQ 定義的抖動測試方法，并且BERTScope 中內部的延遲 控制是誤碼儀中*好的，可以確保抖動測試的精度。可使用內建的抖動計算模型，包括TJ，RJ，DJ，或者將測試數據輸出，進行自定義的抖動建模分析。
BSA286C的低固有RJ可以同時滿足802.3ba的VECP(垂直眼圖閉合代價)和J2/J9校準，并提供所需的重要裕量，**檢定100G以太網芯片。
7、模板一致性輪廓測試
目前許多的測試標準像XFP/XFI和OIF CEI等都定義模板測試，其目的是確保在誤碼率水平為10-12時眼的張開度。一致性輪廓(等高線)視圖可以方便的了解到在不同誤碼率水平下模板是否通過。
8、快速選型指南
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型號
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*大比特率
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帶壓力眼圖 – SJ, RJ, BUJ, SI
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類型
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BSA286C
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28.6 Gb/s
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Opt. STR2
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信號發生器/ 分析器
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BSA260
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26 Gb/s
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Opt. STR
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信號發生器/ 分析器
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BSA175
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17.5 Gb/s
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Opt. STR
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信號發生器/ 分析器
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BSA125
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12.5 Gb/s
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Opt. STR
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信號發生器/ 分析器
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BSA85
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8.5 Gb/s
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Opt. STR
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信號分析器
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9、靈活的時鐘模式
BERTScope STR 選項的時鐘路徑
BERTScope 非常有特色時鐘產生路徑，為現實世界中不斷涌現出的設備提供了靈活的測試方案。無論是電腦插卡還是硬盤，通常都需要提供子速率(sub-rate)系統時鐘，例如PCIExpress中100MHz的時鐘。為了能使被測系統正常工作，需要提供差分的系統時鐘，而且時鐘的幅度、偏置各有不同；BERTScope 內部提供靈活的分頻系數，其靈活構架可以完成各種時鐘的生成。
泰克誤碼率分析儀技術參數：
1、數據輸出
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特性
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說明
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數據率范圍
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BSA85C
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0.1-8.5Gb/s
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BSA125C
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0.1-12.5Gb/s
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BSA175C
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0.5-17.5Gb/s
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BSA260C
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1-26Gb/s
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BSA286C
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1-28.6Gb/s
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碼型格式
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NRZ
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極性
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正常或反相
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可變交叉點電平范圍
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25 to 75%
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碼型
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硬件碼型
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工業標準的PRBS碼型:2n–1where n=7,11,15,20,23,31
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RAM 碼型
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BSA85C
BSA125C
BSA175C
BSA260C
BSA286C
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128位~128Mb。每個A/B 頁面中A或B各有32Mb，共兩組A/B頁面。單頁面*大128Mb。
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碼型數據庫
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基于K28.5或CJTPAT碼型的SONET/SDH,Fibre Channel碼型;2n碼型，n=3,4,5,6,7,9;2n標記密度碼型, n=7,9,23;其他
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誤碼插入
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長度
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1,2,4,8,16,32,64 長度突發序列
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頻率
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單詞或者重復
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2、數據,時鐘 幅度s and Offsets
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特性
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說明
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配置
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差分輸出，差分每一路可獨立設置端接、幅度和偏置
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接口
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DC 耦合，50歐姆反向端接。APC-3.5連接器。可選校準到75歐姆端接，其他阻抗通過面板輸入。可更換的Planar Crown適配器，可換為其他類型連接器。
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預設邏輯電平
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LVPECL,LVDS,LVTTL,CML,ECL,SCFL
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端接電壓
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–2V ~ 2V
預設值：1.5V，1.3V，1.0V，-2V，AC耦合
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允許的幅度、端接和偏置電壓
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參見圖1和圖2
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3、數據、時鐘波形性能
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型號
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上升時間
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抖動
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BSA85C
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25ps (*大), 23ps (典型) (10-90%)
1V幅度，10.31258.0 Gb/s
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<10ps峰峰值(典型值,對于≥1Gb/s數據)
<0.025UI (典型值,數據率<1Gb/s)
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BSA125C
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BSA175C
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BSA260C
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8ps峰峰值 (典型值,數據率為25.078Gb/s 數據率)
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BSA286C
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<300fs RMS隨機抖動<4 ps p-p數據相關抖動 (@14.05Gb/s,@16.0 Gb/s,@25.781Gb/s,@28.05Gb/s)
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4、時鐘/數據延遲
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特性
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說明
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范圍
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(以下情況全部大于1比特周期)
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≤ 1.1GHz
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30ns
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> 1.1GHz
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3ns
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分辨率
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100fs
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自校率
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在時間測量時，當溫度或者比特率改變，推薦進行儀器自校準。校準過程小于10s
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5、外部時鐘輸入
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特性
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說明
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允許外部輸入時鐘信號同步BERTScope。
帶有壓力測試選件的模塊可以對輸入的時鐘增加損傷，包括當外部輸入時鐘信號 有超過5000ppm的SSC的情況。
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頻率范圍
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BSA85C
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0.1 to 8.5GHz
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BSA125C
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0.1 to 12.5GHz
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BSA175C
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0.5 to 17.5GHz
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BSA260C
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1 to 26GHz
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BSA286C
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1 to 28.6GHz
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定額功率
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900mVpp(+3dBm)
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*大功率
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2.0Vpp(+10dBm)
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回波損耗
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優于–6dB
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接口
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50 歐姆SMA 母頭，DC 耦合，可選的端機電壓
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6、高頻抖動(僅在STR 選項中有效)
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特性
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說明
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兩個抖動輸入端中的一個。可以插入所需的SJ、RJ和BUJ
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頻率范圍
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DC到1.0 GHz
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抖動輸入幅度
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*大0.5UI
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輸入電壓范圍
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額定電壓0~2Vpp(10dBm)
*大非損傷電壓6.3Vpp(20dBm)
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數據率范圍
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支持數據速率范圍：1.5 - 8.5 Gb/s (BSA85C), 12.5 Gb/s (BSA125C), 17.5 Gb/s (BSA175C)或, 22.4 Gb/s (BSA260C)或28.6 Gb/s (BSA286C)，性能限定在622 Mb/s (不包括BSA260CBSA286C)
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接口
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SMA母頭,50歐姆,DC耦合,端接電壓0V
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7、子速率時鐘輸出
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特性
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說明
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BERTScope 標配型號輸出4倍分頻時鐘
BERTScope STR 選項提供有額外分頻時鐘輸出的性能
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頻率范圍
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0.125到3.125GHz(STR 選項可到12.5GHz)
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幅度范圍
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額定電壓1Vp-p，偏置0V
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跳變時間
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<500ps
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接口
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SMA母頭, 50 歐姆,DC耦合,端接電壓0V
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8、觸發輸出
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特性
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說明
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提供了脈沖觸發輸出到外部儀器。有兩種模式：
1. 時鐘分頻模式：每256 個時鐘速率輸出一個脈沖
2. 碼型模型：PRBS 碼型中可編程脈沖輸出位置，或者固定脈沖輸出位置(RAM 碼型)
此模塊被選用安裝后，就可進行壓力調制
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*小脈沖寬度
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128 個時鐘周期(模式1)
512 個時鐘周期(模式2)
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跳變時間
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<500ps
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抖動(p-p,數據到觸發)
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<10ps, 典型值(BSA175C、 BSA260C和 BSA286C)
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輸出幅度
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>300mVp-p,偏置 650mV
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接口
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50歐姆 SMA 母頭
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10、碼型啟動輸入
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特性
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說明
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用于多臺儀器同時發送碼型時使用.
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邏輯電平
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LVTTL (<0.5V 低, >2.5V 高)
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門限電平
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+1.2V 典型值
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*大非損傷輸入電壓范圍
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–0.5V to +5.0V
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*小脈沖寬度
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128 連續時鐘周期
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*大重復率
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512 連續時鐘周期
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接口
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SMA 母頭， >1K 歐姆阻抗，端接到0V
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11、頁面選擇輸入
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特性
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說明
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在A-B頁面選擇模式中，可以通過外部控制碼型。軟件控制使用上升沿或下降沿觸發，碼型A完成后連續碼型B，或者返回碼型A運行碼型B一次
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邏輯電平
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LVTTL (<0.5V低,>2.5V高)
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門限電平
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+1.2V典型值
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*大非損傷輸入電壓范圍
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–0.5V ~ +5.0V
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*小脈沖寬度
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一個碼型長度
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接口
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SMA母頭，>1K歐姆阻抗，端接到0V
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12、正弦干擾(Sinusoidal Interference)輸出(僅對STR選件有效)
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特性
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說明
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正選抖動從內部發生器輸出。可以在外部ISI 干擾后應用正弦干擾。
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頻率范圍
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0.1-2.5GHz
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輸出電壓
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0-3Vp-p
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接口
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SMA 母頭，>1K歐姆阻抗，端接到0V
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13、低頻抖動輸入(僅對STR 選件有效)
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特性
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說明
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允許使用外部低頻抖動源對輸出的碼型加損傷
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頻率范圍
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DC 到 100MHz
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抖動幅度范圍
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*大1.1ns，可以和其他內部低頻調制一起使用
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輸入電壓范圍
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額定電壓0~2Vp-p(10dBm) *大非損傷電壓 6.3Vp-p(20dBm)
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數據率范圍
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*高11.2Gb/s（BSA125C）或者22Gb/s*高8.5 Gb/s(BSA85C), *高12.5Gb/s(BSA125C),*高17.5Gb/s (BSA175CCPG),或者22Gb/s (BSA260C)或28.6 Gb/s (BSA286C)
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接口
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SMA母頭，50歐姆，DC耦合到0V
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14、外參考輸入(對XSSC 選件，BSA85C、BSA175C，CPG 或者BSA260C，CPG 有效)
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特性
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說明
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鎖定外部儀器參考時鐘
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頻率
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10,100,106.25,133.33,156.25,166.67,或200MHz
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幅度
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0.325 ~ 1.25Vp-p(–6 to +6dBm)
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接口
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SMA母頭50歐姆,AC耦合
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15、外參考輸出(對XSSC 選件，BSA85C、BSA175C，CPG或者BSA260C，CPG有效)
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特性
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說明
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提供頻率參考源輸出
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配置
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單端(Ref-OUT 未使用)(BSA125C)
差分
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頻率
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10,100,106.25,133.33,156.25,166.67,或200MHz
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幅度
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每輸出端口額定輸出1Vp-p(+4dBm)差分2Vp-p
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接口
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SMA母頭50歐姆,AC耦合
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